Հրապարակումներ
Հոդված
Memory Physical Aware Multi-Level Fault Diagnosis Flow
2020
700-711
Հոդված
Fault Awareness for Memory BIST Architecture Shaped by Multidimensional Prediction Mechanism
2019
562-575
Հոդված
Experimental study on Hamming and Hsiao Codes in the Context of Embedded Applications
2017
25-28
Հոդված
Automated Flow for Test Pattern Creation for IPs in SoC
2017
21-24
Հոդված
An Efficient Testing Methodology for Embedded Flash Memories
2017
422-425
Հոդված
Security Issues in Test and Repair Infrastructure for Systems-on-Chip
2017
114-122
Գիտաժողովի նյութ
Extending fault periodicity table for testing faults in memories under 20nm.
Գիտաժողովի նյութ
A power based memory BIST grouping methodology.
Գիտաժողովի նյութ
Overview study on fault modeling and test methodology development for FinFET-based memories.
Արտոնագիր
Testing Electronic Memories Based on Fault and Test Algorithm Periodicity
Արտոնագիր
FINFET-BASED MEMORY TESTING USING MULTIPLE READ OPERATIONS
Արտոնագիր
DETECTION OF ADDRESS ERRORS IN MEMORY DEVICES USING MULTI-SEGMENT ERROR DETECTION CODES