Հոդված ДВОЙНОЕ ЛУЧЕПРЕЛОМЛЕНИЕ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ В НЕМАТИЧЕСКИХ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛАХ ПОД ВОЗДЕЙСТВИЕМ ВНЕШНЕГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ Л.Г.Гаспарян В.П.Мкртчян Т.К. Дадалян П.С. Петросян 2019 513-518
Գիտաժողովի նյութ String Matching in Case of Periodicity in the Pattern A. Kostanyan A. Karapetyan 2019 61-66
Գիտաժողովի նյութ Armenia: Communicating to World Community in Electronic Test and Design Samvel Shoukourian Yuri Shoukourian Vladimir Sahakyan 2019 1-3
Արտոնագիր FINFET-BASED MEMORY TESTING USING MULTIPLE READ OPERATIONS Samvel Shoukourian Gurgen Harutyunyan Grigor Tshagharyan Yervant Zorian 2019
Հոդված A DYNAMIC INDEXING SCHEME FOR MULTIDIMENSIONAL DATA Manuk G. Manukyan Grigor R. Gevorgyan 2018 111-125
Հոդված On an Approach to Data Integration: Concept, Formal Foundations and Data Model Manuk G. Manukyan 2017 206-213
Հոդված Experimental study on Hamming and Hsiao Codes in the Context of Embedded Applications S. Shoukourian G. Harutyunyan G. Tshagharyan Y. Zorian 2017 25-28
Հոդված Automated Flow for Test Pattern Creation for IPs in SoC S. Shoukourian G. Harutyunyan D. Sargsyan Y. Zorian 2017 21-24
Հոդված An Efficient Testing Methodology for Embedded Flash Memories S. Shoukourian G. Harutyunyan S. Martirosyan Y. Zorian 2017 422-425
Հոդված Security Issues in Test and Repair Infrastructure for Systems-on-Chip S. Shoukourian G. Harutyunyan G. Tshagharyan 2017 114-122
Հոդված ИНСТРУМЕНТАЛЬНАЯ СРЕДА ДЛЯ ПРЕДСТАВЛЕНИЯ И ОБРАБОТКИ НЕЧЕТКИХ ЗНАНИЙ И ЕЕ ПРИЛОЖЕНИЯ А. Г. Костанян Т. Г. Демирчян 2017 150-157
Արտոնագիր Testing Electronic Memories Based on Fault and Test Algorithm Periodicity S. Shoukourian G. Harutyunyan V. Vardanian A. Hakhumyan Y. Zorian 2017
Գիտաժողովի նյութ Securing Test Infrastructure of System-on-Chips S. Shoukourian G.Tshagharyan G.Harutynyan Y.Zorin 2016 29-32